अणुशक्ती afm सूक्ष्मदर्शक
अॅटोमिक फोर्स मायक्रोस्कोप (AFM), एक विश्लेषणात्मक साधन जे इन्सुलेटरसह घन पदार्थांच्या पृष्ठभागाच्या संरचनेचा अभ्यास करण्यासाठी वापरले जाऊ शकते.हे चाचणीसाठी नमुन्याची पृष्ठभाग आणि सूक्ष्म-बल संवेदनशील घटक यांच्यातील अत्यंत कमकुवत आंतरपरमाणू परस्परसंवाद शोधून पदार्थाच्या पृष्ठभागाची रचना आणि गुणधर्मांचा अभ्यास करते.कमकुवत शक्ती अत्यंत संवेदनशील सूक्ष्म-कँटीलिव्हर शेवट निश्चित, नमुना बंद लहान टीप दुसऱ्या टोकाची एक जोडी असेल, नंतर तो त्याच्याशी संवाद साधेल, शक्ती सूक्ष्म-कँटीलिव्हर विकृत रूप किंवा चळवळ स्थिती बदल करेल.नमुना स्कॅन करताना, हे बदल शोधण्यासाठी सेन्सरचा वापर केला जाऊ शकतो, आम्ही बल माहितीचे वितरण मिळवू शकतो, जेणेकरून नॅनो-रिझोल्यूशन माहितीचे पृष्ठभाग आकारविज्ञान आणि पृष्ठभागाच्या खडबडीची माहिती मिळवता येईल.
★ एकात्मिक स्कॅनिंग प्रोब आणि सॅम्पल स्टॅगने हस्तक्षेप विरोधी क्षमता वाढवली.
★ अचूक लेसर आणि प्रोब पोझिशनिंग डिव्हाइस प्रोब बदलणे आणि स्पॉट समायोजित करणे सोपे आणि सोयीस्कर बनवते.
★ नमुना तपासणी जवळ येण्याच्या पद्धतीने वापरून, नमुना स्कॅनिंगसाठी सुई लंब असू शकते.
★ स्कॅनिंग क्षेत्राची अचूक स्थिती प्राप्त करण्यासाठी स्वयंचलित पल्स मोटर ड्राइव्ह नियंत्रण नमुना प्रोब उभ्या जवळ येत आहे.
★ उच्च सुस्पष्टता नमुना मोबाइल उपकरणाच्या डिझाइनचा वापर करून स्वारस्य असलेले नमुना स्कॅनिंग क्षेत्र मुक्तपणे हलविले जाऊ शकते.
★ ऑप्टिकल पोझिशनिंगसह CCD निरीक्षण प्रणाली रीअल-टाइम निरीक्षण आणि प्रोब नमुना स्कॅन क्षेत्राचे स्थान मिळवते.
★ मॉड्युलरायझेशनच्या इलेक्ट्रॉनिक नियंत्रण प्रणालीच्या डिझाइनमुळे सर्किटची देखभाल आणि सतत सुधारणा सुलभ झाली.
★ एकाधिक स्कॅनिंग मोड कंट्रोल सर्किटचे एकत्रीकरण, सॉफ्टवेअर सिस्टमसह सहकार्य करा.
★ स्प्रिंग सस्पेंशन जे साधे आणि व्यावहारिक वर्धित विरोधी हस्तक्षेप क्षमता.
| कार्य मोड | एफएम-टॅपिंग, पर्यायी संपर्क, घर्षण, फेज, चुंबकीय किंवा इलेक्ट्रोस्टॅटिक |
| आकार | Φ≤90 मिमी,H≤20 मिमी |
| स्कॅनिंग रेंज | 20 मिमी XYdirection,Z दिशेने 2 मि.मी. |
| स्कॅनिंग रिझोल्यूशन | XY दिशेने 0.2nm,Z दिशेने 0.05nm |
| नमुन्याची हालचाल श्रेणी | ±6.5 मिमी |
| मोटरची पल्स रुंदी जवळ येते | 10±2ms |
| प्रतिमा नमुना बिंदू | २५६×२५६,५१२×५१२ |
| ऑप्टिकल मॅग्निफिकेशन | 4X |
| ऑप्टिकल रिझोल्यूशन | 2.5 मिमी |
| स्कॅन दर | 0.6Hz~4.34Hz |
| स्कॅन कोन | 0°~360° |
| स्कॅनिंग नियंत्रण | XY दिशेने 18-बिट D/A,Z दिशेने 16-बिट D/A |
| डेटा सॅम्पलिंग | 14-bitA/D,डबल16-बिट ए/डी मल्टी-चॅनल सिंक्रोनस सॅम्पलिंग |
| अभिप्राय | डीएसपी डिजिटल फीडबॅक |
| अभिप्राय नमुना दर | 64.0KHz |
| संगणक इंटरफेस | USB2.0 |
| ऑपरेटिंग वातावरण | Windows98/2000/XP/7/8 |